半導體高溫老化柜，也稱為ORT高溫老化柜，是一種專門用于半導體器件可靠性測試的設備。它通過模擬高溫、高濕、高壓等惡劣環境，對半導體器件進行長時間的老化處理，以評估其在實際使用環境中的性能表現和可靠性
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